鍍層測厚儀介紹

鍍層測厚儀(yi) 分類

鍍層測厚儀(yi) 主要有以下幾類
1.x-射線熒光測厚儀(yi)
2.β-射線測厚儀(yi)
3.庫侖(lun) 測厚儀(yi)

XRF-2000 x-射線鍍層測厚儀(yi)

＊ 兼容Microsoft Windows操作係統之軟件
＊ 可測單層, 多層 1-6層, 合金厚度及比例
＊ 藥水分析功能.
＊ 擁有多種 Filter 選擇性
＊ 定點自動定位分析
＊ 光徑對準全自動化
＊ 自動顯示量測參數
＊ 2D/3D, 任意位置量測控製
＊ 雷射對焦與(yu) 自動定位係統
＊ 溫控穩定延長校準時效
＊ 20X 倍放大攝影係統.
＊ X-ray運作待命睡眠控製                                      
＊ 全進口美日係零件價(jia) 格優(you) 勢以及快速服務時效
＊ 彩色區別量測數據,多重統計顯示窗口與(yu) 報告編輯應用

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析三層厚度,*的FP分析軟件,真正做到無厚度標準片亦能進行準確測量,為(wei) 您大大節省購買(mai) 標準片的成本.*超越其他品牌的所謂FP軟件.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度,簡單的核對方式,無需購買(mai) 標準藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,並可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與(yu) 標準件的差別,從(cong) 而控製來料的純度.
統計功能:能夠將測量結果進行係統分析統計,方便有效的控製品質.





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